Katalog CVE

CVE-2026-74514

Niskie ryzyko· EPSS 7%
Opublikowano: Zaktualizowano: Przetłumaczono: NVD NIST

Prawdopodobieństwo exploitacji (EPSS)

Niskie ryzyko
0.17%

Percentyl 7 - wyżej niż 7% wszystkich znanych CVE

Streszczenie

W jądrze Linux w podsystemie KVM dla architektury s390 w obsłudze PCI wykryto problem z rozliczaniem pamięci dla stron przypiętych i odpiętych. Funkcje account_mem() i unaccount_mem() wywołują get_uid(), które zwiększa licznik referencji struktury user_struct przy każdym wywołaniu, ale nie jest wywoływane free_uid() w celu jego zmniejszenia. Dodatkowo rozliczanie odbywa się względem current->mm, co może być nieprawidłowe, gdy unaccount_mem() jest wywoływane z innego kontekstu procesu niż ten, który pierwotnie przypiął strony. Poprawka przechowuje user_struct i mm_struct procesu przypinającego, a następnie zwalnia te zasoby przy odpinaniu.

Ocena ryzyka

Nieprawidłowe rozliczanie pamięci może prowadzić do wycieków pamięci i nieprawidłowego działania mechanizmów limitów pamięci, co może być wykorzystane do wyczerpania zasobów systemowych.

Rekomendacja

Zastosuj aktualizację jądra Linux zawierającą poprawkę dla CVE-2026-74514. Monitoruj użycie pamięci w systemach z KVM/s390.

Inne podatności w Linux kernel

Zobacz wszystkie
Oryginalny opis (angielski, źródło NVD)

In the Linux kernel, the following vulnerability has been resolved: KVM: s390: pci: Fix memory accounting for pinned/unpinned pages The account_mem() and unaccount_mem() functions call get_uid() which increments the reference count of struct user_struct on every invocation. But we don't decrement the count by calling free_uid(). It also accounted/unaccounted the pages against the current->mm. But its possible the unaccount_mem() can be called from a different process context than the one that originally pinned the pages. Let's fix this by storing the pinning process user_struct and mm_struct when accounting for pinned pages, and subsequently free these resources when the pages are unpinned. [[email protected]: Fixed whitespace]

Dane podatności pochodzą z NVD (NIST) · CISA KEV · EPSS