CVE-2026-72895
WysokieCVSS 7.7Streszczenie
Podatność w SIMATIC IPC BX-21A, SIMATIC IPC RW-543A oraz SIMATIC IPC227G / IPC277G / IPC277G PRO / IPC327G / IPC377G polega na obecności testowego klucza producenta BIOS w bazie kluczy UEFI Secure Boot. Lokalny atakujący z fizycznym lub administracyjnym dostępem może uruchomić system operacyjny lub aplikację UEFI podpisaną tym kluczem, omijając ochronę Secure Boot nawet gdy jest włączony, co może prowadzić do całkowitej utraty poufności, integralności i dostępności urządzenia.
Ocena ryzyka
Ryzyko obejmuje możliwość uruchomienia nieautoryzowanego oprogramowania, co może prowadzić do pełnej kompromitacji urządzenia i danych.
Rekomendacja
Zaleca się aktualizację do wskazanych wersji lub nowszych oraz usunięcie testowego klucza z bazy kluczy Secure Boot.
Inne podatności w SIMATIC IPC
Zobacz wszystkie- CVE-2024-56182Wysokie
Podatność w urządzeniach SIMATIC IPC pozwala uwierzytelnionemu atakującemu na obejście zabezpieczeń zmiennych EFI i wyłączenie hasła BIOS bez autoryzacji, poprzez bezpośrednią komunikację z kontrolerem flash.
- CVE-2024-56181Wysokie
Podatność w urządzeniach SIMATIC IPC pozwala uwierzytelnionemu atakującemu na modyfikację zmiennych EFI bez autoryzacji, poprzez bezpośrednią komunikację z kontrolerem flash. Problem dotyczy niewystarczającego mechanizmu ochrony zmiennych EFI, co może umożliwić zmianę konfiguracji Secure Boot.
Oryginalny opis (angielski, źródło NVD)
A vulnerability has been identified in SIMATIC IPC BX-21A (All versions < V31.01.13), SIMATIC IPC RW-543A (All versions < V1.1.4), SIMATIC IPC227G / IPC277G / IPC277G PRO / IPC327G / IPC377G (All versions < V28.01.15). A BIOS vendor test key is present in the UEFI Secure Boot key database. This could allow a local attacker with physical or administrative access to the device to boot an operating system or UEFI application signed with that test key, bypassing UEFI Secure Boot protections even when Secure Boot is enabled, potentially leading to a full loss of confidentiality, integrity, and availability of the device.
Dane podatności pochodzą z NVD (NIST) · CISA KEV · EPSS