Katalog CVE

CVE-2026-72430

Niskie ryzyko· EPSS 10%
Opublikowano: Zaktualizowano: Przetłumaczono: NVD NIST

Prawdopodobieństwo exploitacji (EPSS)

Niskie ryzyko
0.20%

Percentyl 10 - wyżej niż 10% wszystkich znanych CVE

Streszczenie

W jądrze Linux w module net/sched: act_ct występuje wyciek nf_connlabels na dwóch ścieżkach błędów. Funkcja tcf_ct_fill_params() wywołuje nf_connlabels_get(), ale dwa późniejsze miejsca błędów używają zwykłego return zamiast goto err, pomijając oczyszczanie nf_connlabels_put().

Ocena ryzyka

Nieuprawniony użytkownik z CAP_NET_ADMIN w przestrzeni nazw sieci może spowodować wyciek referencji nf_connlabels, co prowadzi do wyczerpania zasobów i potencjalnego DoS.

Rekomendacja

Zastosuj poprawkę jądra Linux, która zmienia te dwa miejsca błędów na goto err, aby zapewnić poprawne oczyszczanie.

Inne podatności w Linux kernel

Zobacz wszystkie
Oryginalny opis (angielski, źródło NVD)

In the Linux kernel, the following vulnerability has been resolved: net/sched: act_ct: fix nf_connlabels leak on two error paths tcf_ct_fill_params() calls nf_connlabels_get() (setting put_labels) when TCA_CT_LABELS is present, but two later error sites use a bare return instead of "goto err", skipping the err: nf_connlabels_put() cleanup. They also precede the "p->put_labels = put_labels" assignment, so the tcf_ct_params_free() fallback does not release the count either. Each failed RTM_NEWACTION on these paths leaks one nf_connlabels reference: net->ct.labels_used is incremented and never released. The action is reachable with CAP_NET_ADMIN over the netns, i.e. from an unprivileged user namespace on default-userns kernels. Impact: an unprivileged user with CAP_NET_ADMIN over a network namespace (e.g. via user namespaces) leaks one nf_connlabels reference per failed RTM_NEWACTION on the two error paths; net->ct.labels_used is never released. The err: label is safe to reach from both sites: p->tmpl is still NULL there (kzalloc'd, not yet assigned) and nf_ct_put(NULL) is a no-op, so no inline release is needed.

Dane podatności pochodzą z NVD (NIST) · CISA KEV · EPSS