Katalog CVE

CVE-2026-25290

WysokieCVSS 7.8
Opublikowano: Zaktualizowano: Przetłumaczono: NVD NIST

Prawdopodobieństwo exploitacji (EPSS)

Niskie ryzyko
0.07%

Percentyl 0 - wyżej niż 0% wszystkich znanych CVE

Streszczenie

Występuje uszkodzenie pamięci podczas walidacji dużych buforów danych z zewnętrznych źródeł przy użyciu dodawania do sprawdzenia długości bufora.

Ocena ryzyka

Ryzyko obejmuje możliwość awarii systemu lub wykonania złośliwego kodu przez atakującego, co może prowadzić do naruszenia integralności i poufności danych.

Rekomendacja

Zaleca się aktualizację oprogramowania do wersji zawierającej poprawkę oraz ograniczenie zaufania do danych zewnętrznych.

Inne podatności w Qualcomm

Zobacz wszystkie
Oryginalny opis (angielski, źródło NVD)

Memory Corruption when validating large data buffers from external sources using addition to check buffer length.

Dane podatności pochodzą z NVD (NIST) · CISA KEV · EPSS