CVE-2025-61836
WysokieCVSS 7.8Prawdopodobieństwo exploitacji (EPSS)
Niskie ryzykoPercentyl 16 - wyżej niż 16% wszystkich znanych CVE
Streszczenie
Podatność typu Integer Underflow (zawijanie/przepełnienie) w Illustratorze na iPad w wersjach 3.0.9 i starszych może prowadzić do wykonania dowolnego kodu w kontekście bieżącego użytkownika. Eksploatacja wymaga interakcji użytkownika — ofiara musi otworzyć złośliwy plik.
Ocena ryzyka
Otwarcie spreparowanego pliku w aplikacji może doprowadzić do wykonania złośliwego kodu z uprawnieniami użytkownika, co grozi kompromitacją danych i systemu.
Rekomendacja
Zaktualizuj Illustrator na iPad do najnowszej wersji i unikaj otwierania plików z nieznanych źródeł.
Inne podatności w Illustrator on iPad
Zobacz wszystkie- CVE-2025-61829Wysokie
Illustrator na iPad w wersjach 3.0.9 i wcześniejszych jest podatny na przepełnienie bufora oparte na stercie (Heap-based Buffer Overflow), które może prowadzić do wykonania dowolnego kodu w kontekście bieżącego użytkownika. Wykorzystanie wymaga interakcji użytkownika — ofiara musi otworzyć złośliwy plik.
- CVE-2025-61827Wysokie
Illustrator na iPad w wersjach 3.0.9 i wcześniejszych jest podatny na przepełnienie bufora oparte na stercie (Heap-based Buffer Overflow), które może prowadzić do wykonania dowolnego kodu w kontekście bieżącego użytkownika. Wykorzystanie wymaga interakcji użytkownika — ofiara musi otworzyć złośliwy plik.
- CVE-2025-61826Wysokie
Podatność typu Integer Underflow (zawijanie/przepełnienie) w Illustratorze na iPad w wersjach 3.0.9 i starszych może prowadzić do wykonania dowolnego kodu w kontekście bieżącego użytkownika. Eksploatacja wymaga interakcji użytkownika — ofiara musi otworzyć złośliwy plik.
Oryginalny opis (angielski, źródło NVD)
Illustrator on iPad versions 3.0.9 and earlier are affected by an Integer Underflow (Wrap or Wraparound) vulnerability that could result in arbitrary code execution in the context of the current user. Exploitation of this issue requires user interaction in that a victim must open a malicious file.
Dane podatności pochodzą z NVD (NIST) · CISA KEV · EPSS