Katalog CVE

CVE-2025-59104

Wysokie
Opublikowano: Przetłumaczono: NVD NIST

Streszczenie

Podatność wymaga fizycznego dostępu do urządzenia. Atakujący może przylutować przewody testowe do złącza debugowania lub użyć kabla Tag-Connect, aby uzyskać dostęp do bootloadera i zmienić parametry jądra, co pozwala na uzyskanie powłoki root.

Ocena ryzyka

Ryzyko dla organizacji jest wysokie, jeśli urządzenia są fizycznie dostępne dla nieautoryzowanych osób. Atakujący może przejąć pełną kontrolę nad urządzeniem, co może prowadzić do naruszenia integralności systemu i danych.

Rekomendacja

Zaleca się ograniczenie fizycznego dostępu do urządzeń oraz zabezpieczenie interfejsu debugowania (np. poprzez zakrycie punktów lutowniczych, użycie kleju lub włączenie zabezpieczeń bootloadera, takich jak podpisany obraz jądra).

Powiązane podatności

Oryginalny opis (angielski, źródło NVD)

With physical access to the device and enough time an attacker is able to solder test leads to the debug footprint (or use the 6-Pin tag-connect cable). Thus, the attacker gains access to the bootloader, where the kernel command line can be changed. An attacker is able to gain a root shell through this vulnerability.

Dane podatności pochodzą z NVD (NIST) · CISA KEV · EPSS